Leveraging JMAG-RT and FEA-based Models for High Fidelity Real-Time Test in FPGA

Ben Black
National Instruments

概要

Real-time test in the area of power electronics provides unique challenges that are difficult to address with traditional hardware-in-the-loop (HIL) systems. The high speed discrete switching states of power electronics systems mean that the simulation system needs to run on the order of 1 us to provide useful numerical results, and the benefits during algorithm development are directly related to the fidelity of the model. A good test system allows a control engineer to speed up the design cycle by allowing control testing to start without physical hardware, to test novel control algorithms without endangering hardware and to see potentially un-measureable parameters within the system. To address these issues and to provide a platform for HIL testing of electric motor systems, National Instruments has partnered with JSOL Corporation and developed field programmable gate array (FPGA) models that use JMAG-RT as a means to deploy the high-fidelity of an FEA simulation into the high speed of a FPGA processing node.

講演論文を閲覧いただくには、サインインが必要です

こちらは会員限定コンテンツです。
『JMAGソフトウェア正規ユーザー(有償会員)』または『JMAG WEB MEMBER(無料会員)』でサインインが必要です。

『JMAG WEB MEMBER(無料会員)』へ登録することで、技術資料やそのほかの会員限定コンテンツを無料で閲覧できます。
登録されていない方は「新規会員登録」ボタンをクリックしてください。

新規会員登録 サインイン 

Remember me
サインイン
新規会員登録(無料) JMAG WEBサイトの認証IDに関して

絞込み検索

  • カテゴリー 一覧

論文集アーカイブ

アーカイブ